-
1 secondary ion mass spectrometry
Optics: SIMSУниверсальный русско-английский словарь > secondary ion mass spectrometry
-
2 secondary-ion mass spectrometry
Engineering: SIMSУниверсальный русско-английский словарь > secondary-ion mass spectrometry
-
3 secondary ion mass spectrometry
масс-спектрометрия вторичных ионов; см. также SIMSАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > secondary ion mass spectrometry
-
4 масс-спектрометрия на вторичных ионах
Русско-английский словарь по микроэлектронике > масс-спектрометрия на вторичных ионах
-
5 SIMS
1. secondary ion mass spectrometry — масс-спектроскопия вторичных ионов ( метод химического анализа микроскопических участков образцов)secondary ion mass spectrometry — вторичная ионная масс-спектрометрия, ВИМС -
6 масс-спектрометрия
Русско-английский новый политехнический словарь > масс-спектрометрия
-
7 масс-спектрометрия вторичных ионов
secondary ion mass spectrometry, SIMSРусско-английский физический словарь > масс-спектрометрия вторичных ионов
-
8 SIMS technique
secondary ion mass spectrometry technique — метод вторичной ионной масс-спектрометрии, метод ВИМСАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > SIMS technique
-
9 масс-спектрометрия вторичных ионов
1) Engineering: secondary-ion mass spectrometry2) Silicates: secondary ion mass spectrometry3) Makarov: secondary-ion mass spectrometry( SIMS)Универсальный русско-английский словарь > масс-спектрометрия вторичных ионов
-
10 масс-спектрометрия на вторичных ионах
масс-спектрометрия на вторичных ионах
—
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
EN
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > масс-спектрометрия на вторичных ионах
-
11 вторичная ионная масс-спектроскопия
1) Engineering: secondary-ion mass spectrometry2) Makarov: secondary-ion mass spectroscopy( SIMS)Универсальный русско-английский словарь > вторичная ионная масс-спектроскопия
-
12 вторичная ионная масс-спектрометрия
Semiconductors: secondary ion mass spectrometryУниверсальный русско-английский словарь > вторичная ионная масс-спектрометрия
-
13 вторично-ионная масс-спектрометрия
Household appliances: SIMS, secondary ion mass-spectrometryУниверсальный русско-английский словарь > вторично-ионная масс-спектрометрия
-
14 жидкостная масс-спектрометрия вторичных ионов
Универсальный русско-английский словарь > жидкостная масс-спектрометрия вторичных ионов
-
15 жидкофазная масс-спектрометрия вторичных ионов
Универсальный русско-английский словарь > жидкофазная масс-спектрометрия вторичных ионов
-
16 масс-спектрометрия на вторичных ионах
Microelectronics: secondary-ion mass spectrometryУниверсальный русско-английский словарь > масс-спектрометрия на вторичных ионах
-
17 масс-спектрометрия с эмиссией вторичных ионов из жидкой фазы
Универсальный русско-английский словарь > масс-спектрометрия с эмиссией вторичных ионов из жидкой фазы
-
18 TOF SIMS
(Time of Flight Secondary Ion Mass-Spectrometry)Масс-спектрометрия вторичных ионов с время-пролётной масс-сепарациейМетод локального анализа, основанный на регистрации спектра масс ионов, возникающих в результате ионного травления исследуемого образца. -
19 масс-спектрометрия с эмиссией вторичных ионов
Универсальный русско-английский словарь > масс-спектрометрия с эмиссией вторичных ионов
-
20 микрозондовая масс-спектрометрия вторичных ионов
Универсальный русско-английский словарь > микрозондовая масс-спектрометрия вторичных ионов
См. также в других словарях:
Secondary ion mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Secondary ion mass spectrometry caption =CAMECA IMS3f Magnetic SIMS Instrument acronym = SIMS classification =Mass spectrometry analytes = Solid surfaces, thin films related = Fast atom bombardment… … Wikipedia
secondary ion mass-spectrometry — antrinių jonų masių spektrometrija statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. secondary ion mass spectrometry vok. Sekundärionen Massenspektrometrie, f rus. вторично ионная масс спектрометрия, f; масс спектрометрия на вторичных ионах,… … Radioelektronikos terminų žodynas
Static secondary ion mass spectrometry — Static secondary ion mass spectrometry, or static SIMS is a technique for chemical analysis including elemental composition and chemical structure of the uppermost atomic or molecular layer of a solid which may be a metal, semiconductor or… … Wikipedia
secondary ion mass spectrometry — noun A technique used to visualize the three dimensional structure of solids by employing an energetic ion beam to fragment the atomic or molecular constituents from a surface … Wiktionary
Mass spectrometry — (MS) is an analytical technique that measures the mass to charge ratio of charged particles.[1] It is used for determining masses of particles, for determining the elemental composition of a sample or molecule, and for elucidating the chemical… … Wikipedia
Mass spectrometry imaging — (also known as imaging mass spectrometry) is a technique used in mass spectrometry to visualize the spatial distribution of e.g. compounds, biomarker, metabolites, peptides or proteins by their molecular masses. Emerging technologies in the field … Wikipedia
Plasma desorption mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Plasma desorption mass spectrometry caption =Schematic representation of a plasama desorption time of flight mass spectrometer. acronym = PDMS classification =Mass spectrometry analytes = Organic molecules… … Wikipedia
mass spectrometry — or mass spectroscopy Analytic technique by which chemical substances are identified by sorting gaseous ions by mass using electric and magnetic fields. A mass spectrometer uses electrical means to detect the sorted ions, while a mass spectrograph … Universalium
Ion source — An ion source is an electro magnetic device that is used to create charged particles. These are used primarily within mass spectrometers or particle accelerators.Mass spectrometry In mass spectrometry, an ion source is a piece of equipment used… … Wikipedia
Ion beam — An ion beam is a type of particle beam consisting of ions. Ion beams have many uses in electronics manufacturing (principally ion implantation) and other industries. Today s ion beam sources are typically derived from the mercury vapor thrusters… … Wikipedia
Low-energy ion scattering — LEIS redirects here; for the Hawaiian garland see Lei (Hawaii). Low energy ion scattering spectroscopy (LEIS), sometimes referred to simply as ion scattering spectroscopy (ISS), is a surface sensitive analytical technique used to characterize the … Wikipedia